 |
|
| Атомная спектроскопия |
| Молекулярная спектроскопия |
| Пробоподготовка |
| Размер и свойства частиц |
| Дзета-потенциал |
| Удельная поверхность и пористость |
| Пикнометры и насыпная плотность |
| Поверхностное натяжение |
| Адгезия |
| Термоанализ |
| Магнитные свойства |
| Очистка воды |
| Вискозиметры |
| Оборудование для лабораторий |
| Чистые помещения |
| Расходные материалы, комплектующие, стандартные образцы |
| Контрольно-измерительные приборы |
| Испытания полимеров |
| Электроспиннинг |
| Инфракрасные детекторы, микроболометры |
| Термостатирование |
Нагревающие микроскопы Misura® HSMN
Производитель: Expert System Solutions
Нагревающий микроскоп Misura® HSM состоит из трех основных частей смонтированных на одной оптической скамье:- источник света с галогеновой лампой
- электрическая печь (длина 100 мм и диаметр 20 мм) с держателем образца
- модуль наблюдения с микроскопом и записывающим устройством
- Образец помещают на небольшую керамическую пластинку рядом с термопарой. Микроскоп записывает изображение образца с пятикратным увеличением через кварцевое окошко.
Такой нагревающий микроскоп способен регистрировать и хранить изображения образца в течение всего цикла нагрева с определенными фиксированными интервалами. При этом все параметры образца (длина, высота...) измеряются автоматически в процессе теста для того, чтобы идентифицировать характеристические температуры исследуемого материала. Наиболее важной особенностью данного метода исследования является возможность следить за поведением материала при тех же градиентах температур, что и в промышленных печах без соприкосновения с образцом.
Использование маленьких образцов позволяет работать с высокими скоростями нагревания и обеспечивает гомогенное нагревание образца. Размер образца подбирают, учитывая баланс между весом, вязкостью и поверхностным натяжением, которые меняют форму образца при переходе в жидкое состояние. Цилиндрический образец обычно выбирают исходя из того, что это единственная форма, позволяющая фокусироваться на плоской поверхности, которая не меняется в процессе трансформации формы материала, вызываемой нагревом. Призматические образцы, наоборот, требуют постоянного изменения фокусировки (такие образцы прописаны в некоторых международных стандартах).
Например характеристические температуры стекол, глазурей и фритт, которые можно определять нагревающим микроскопом приведены ниже:
 |
Начало регистрации данных Анализатор изображения автоматически измеряет 100% высоту образца с учетом керамической подставки как базовое значение. |
 |
Спекание Температура начала спекания определяется прибором как температура при которой измеренные размеры образца будут отличаться на 5% относительно зарегистрированных в начале (которые принимаются за 100%) |
 |
Размягчение Для определения данной точки находят температуру при которой происходит скругление краев и сглаживание верхней части стенок |
 |
Сфера Каждый зарегистрированный образ сравнивается с теоретической сферой, с учетом определенных отклонений от фигуры, с которой происходит сравнение. |
 |
Полусфера Температура полусферы определяется по состоянию образца, в котором высота становится равна половине длины основания. Если стекло ведет себя нормально при данной температуре, контактный угол становится близким к 90°. Однако, при данной температуре значение угла часто существенно выше, и, в некоторых случаях, форма образца скорее напоминает колокол. |
 |
Плавление Когда высота образца уменьшается до менее 1/3 от основания можно сказать, что образец полностью превратился в жидкость и достиг точки плавления. |
Данные, которые позволяет получить прибор:
- Автоматическая регистрация изображений образца. Изображения могут быть распечатаны или показаны в виде последовательности (ролика)
- Анимация, построенная из изображений образца при разных температурах
- Автоматический анализ изображения (с учетом различных международных стандартов)
- Регистрация кривой уплощения образца (высота образца от температуры)
- Автоматическая идентификация характеристических температур (начало спекания, размягчения, сфера, полусфера, плавление)
- Регистрация кривой изменения контактного угла от температуры
- Регистрация кривой изменения площади образца
- Регистрация кривой отношения высоты к основанию образца
- Идентификация эффектов вспучивания
- Сгорание
- Теоретическая кривая вязкости: Имеется возможность экстраполировать величину вязкости расплавленного стекла с использованием информации полученной микроскопом Misura®3 HSM или оптическим дилатометром Misura®3 ODHT или ODLT. После получения значений перехода стеклования, размягчения и полусферы значения вязкости можно рассчитать с применением уравнения Фогеля–Фульчера–Таммана
-
Значения поверхностного натяжения при высоких температурах: расчет стал возможен благодаря разработке нового математического алгоритма. Расчет использует уравнение описывающее кривизну лежащей капли как функцию от поверхностного натяжения.
- ASTM D1857-68
- ISO 540
- DIN 51730
- CEN/TS 15370-1
- IS 12891
- BS 1016
Образцы для нагревающего микроскопа
- Цилиндр (вертикально стоящий), диаметр 2 мм и 3 мм высота, до 6-10 мм высота и до 6-10 мм диаметр
- Кубический 3 х 3 х 3 мм, до 6-10 мм сторона
- Пирамида (вертикально стоящая) - высота от 11 до 19 мм, сторона 6,4 мм, угол 60° (основание пирамиды - равносторонний треугольник)
- Возможность анализа одного, двух или четырех образцов одновременно
- Желательно избегать призматических образцов из-за необходимости постоянной фокусировки при изменении формы
- Нежелательно работать с более крупными образцами так как данные размеры выбраны с учетом уравнения, связывающего поверхностное натяжение и гидростатическое давление. Для более крупных образцов будет затруднительно получить сферу, так как образец будет слишком тяжелым чтобы поверхностное натяжение позволило удержать форму. В таком случае образец примет форму лежащей капли, необходимую для расчета поверхностного натяжению по уравнению Юнга-Лапласа
Технические характеристики приборов
| MISURA® HSMN |
MISURA® HSMNx4 |
MISURA® HSMNB | |
| Оптическая измерительная система |
однолучевая | двухлучевая | двухлучевая |
| Диапазон расширения/сжатия |
±100% | ±100% | ±100% |
| Изменение образца |
вертикальное | вертикальное | вертикальное |
| Число образцов |
1 или 2 |
1,2,3 или 4 |
1,2,3 или 4 |
| Размеры образца (цилиндр) |
3 х 2 мм |
3 х 2 мм | 3 х 2 мм |
| Диапазон размеров образца: |
|||
| - цилиндр до |
6 х 6 мм |
6 х 6 мм | 6 х 6 мм |
| - куб до |
6 х 6 х 6 мм |
6 х 6 х 6 мм | 6 х 6 х 6 мм |
| - пирамида до |
11 х 6.4 мм 60° | 11 х 6.4 мм 60° | 19 х 6.4 мм 60° |
| Стандарты |
ASTM D1857-68, ISO 540, DIN 51730, CEN/TS 15370-1 IS 12891, DM 05-02-1998 |
ASTM D1857-68, ISO 540, DIN 51730, CEN/TS 15370-1 IS 12891, DM 05-02-1998 |
ASTM D1857-68, ISO 540, DIN 51730, CEN/TS 15370-1 IS 12891, DM 05-02-1998 |
| Диапазон температур |
от комнатной до 1650°C |
от комнатной до 1650°C | от комнатной до 1600°C |
| Скорость нагрева |
от 0.01 до 80°C/мин | от 0.01 до 80°C/мин | от 0.01 до 30°C/мин |
| Система охлаждения |
дополнительно | дополнительно | нет |
| Термопары образца |
тип S или B |
тип S или B | тип S или B |
| Термопара в печи |
тип B |
тип B |
тип B |
| Интерфейс с компьютером |
USB и RS-232 |
USB и RS-232 | USB и RS-232 |
| Атмосфера образца: |
|||
| - окислительная | статическая или динамическая |
статическая или динамическая | статическая или динамическая |
| - инертная | динамическая | динамическая | динамическая |
| Питание | 220В, 50/60 Гц, 2500 Вт |
220В, 50/60 Гц, 2500 Вт | 220В, 50/60 Гц, 2500 Вт |
MISURA® HSMN - стандартный нагревающий микроскоп серии H (с малой печью)
MISURA® HSMNx4 - стандартный нагревающий микроскоп серии H с двойной оптикой, способен работать с 4-мя образцами одновременно
MISURA® HSMNB - нагревающий микроскоп серии H с увеличенной печью, способен работать с большими образцами
© ООО "ЛАБТЕСТ" 2013 г.
| Научное и лабораторное оборудование 123557, г. Москва, Б.Тишинский переулок, д.38 Тел.: +7 (495)605-3507, +7 (495)605-3610 Факс: +7 (495)605-3507 e-mail: |