Атомная спектроскопия |
Молекулярная спектроскопия |
Пробоподготовка |
Размер и свойства частиц |
Дзета-потенциал |
Удельная поверхность и пористость |
Пикнометры и насыпная плотность |
Поверхностное натяжение |
Адгезия |
Термоанализ |
Магнитные свойства |
Очистка воды |
Вискозиметры |
Оборудование для лабораторий |
Чистые помещения |
Расходные материалы, комплектующие, стандартные образцы |
Контрольно-измерительные приборы |
Испытания полимеров |
Электроспиннинг |
Инфракрасные детекторы,
микроболометры |
Термостатирование |
|
Нагревающие микроскопы Misura® HSML
Производитель: Expert System Solutions Нагревающий микроскоп Misura® HSML состоит из трех основных частей смонтированных на одной оптической скамье:
- источник света с галогеновой лампой
- электрическая печь (длина 100 мм и диаметр 20 мм) с держателем образца
- модуль наблюдения с микроскопом и записывающим устройством
- Образец помещают на небольшую керамическую пластинку рядом с термопарой. Микроскоп записывает изображение образца с пятикратным увеличением через кварцевое окошко.
Такой нагревающий микроскоп способен регистрировать и хранить изображения образца в течение всего цикла нагрева с определенными фиксированными интервалами. При этом все параметры образца (длина, высота...) измеряются автоматически в процессе теста для того, чтобы идентифицировать характеристические температуры исследуемого материала. Наиболее важной особенностью данного метода исследования является возможность следить за поведением материала при тех же градиентах температур, что и в промышленных печах без соприкосновения с образцом.
Использование маленьких образцов позволяет работать с высокими скоростями нагревания и обеспечивает гомогенное нагревание образца. Размер образца подбирают, учитывая баланс между весом, вязкостью и поверхностным натяжением, которые меняют форму образца при переходе в жидкое состояние. Цилиндрический образец обычно выбирают исходя из того, что это единственная форма, позволяющая фокусироваться на плоской поверхности которая не меняется в процессе трансформации формы материала вызываемой нагревом. Призматические образцы, наоборот, требуют постоянного изменения фокусировки (таки образцы прописаны в некоторых международных стандартах).
Например характеристические температуры стекол, глазурей и фритт, которые можно определять нагревающим микроскопом приведены ниже:
![](pic/sample-1.png)
|
Начало регистрации данных
Анализатор изображения автоматически измеряет 100% высоту образца с учетом керамической подставки как базовое значение.
|
![](pic/sample-2.png) |
Спекание
Температура начала спекания определяется прибором как температура при которой измеренные размеры образца будут отличаться на 5% относительно зарегистрированных в начале (которые принимаются за 100%)
|
![](pic/sample-3.png) |
Размягчение
Для определения данной точки находят температуру при которой происходит скругление краев и сглаживание верхней части стенок |
![](pic/sample-4.png) |
Сфера
Каждый зарегистрированный образ сравнивается с теоретической сферой, с учетом определенных отклонений от фигуры, с которой происходит сравнение.
|
![](pic/sample-5.png)
|
Полусфера
Температура полусферы определяется по состоянию образца, в котором высота становится равна половине длины основания. Если стекло ведет себя нормально при данной температуре, контактный угол становится близким к 90°. Однако, при данной температуре значение угла часто существенно выше, и, в некоторых случаях, форма образца скорее напоминает колокол.
|
![](pic/sample-6.png)
|
Плавление
Когда высота образца уменьшается до менее 1/3 от основания можно сказать, что образец полностью превратился в жидкость и достиг точки плавления.
|
Данные, которые позволяет получить прибор:
Образцы для нагревающего микроскопа
- Цилиндр (вертикально стоящий), диаметр 2 мм и 3 мм высота, до 6-10 мм высота и до 6-10 мм диаметр
- Кубический 3 х 3 х 3 мм, до 6-10 мм сторона
- Пирамида (вертикально стоящая) - высота от 11 до 19 мм, сторона 6,4 мм, угол 60° (основание пирамиды - равносторонний треугольник)
- Возможность анализа одного, двух или четырех образцов одновременно
- Желательно избегать призматических образцов из-за необходимости постоянной фокусировки при изменении формы
- Нежелательно работать с более крупными образцами так как данные размеры выбраны с учетом уравнения, связывающего поверхностное натяжение и гидростатическое давление. Для более крупных образцов будет затруднительно получить сферу, так как образец будет слишком тяжелым чтобы поверхностное натяжение позволило удержать форму. В таком случае образец примет форму лежащей капли, необходимую для расчета поверхностного натяжению по уравнению Юнга-Лапласа
Технические характеристики приборов
|
MISURA® HSML
|
MISURA® HSMLx4
|
Оптическая измерительная система
|
однолучевая |
двухлучевая |
Диапазон расширения/сжатия
|
±100% |
±100% |
|
|
Изменение образца
|
вертикальное |
вертикальное |
Число образцов
|
1 или 2
|
1,2,3 или 4
|
Размеры образца (цилиндр)
|
3 х 2 мм
|
3 х 2 мм |
Диапазон размеров образца:
|
|
|
- цилиндр до
|
6 х 6 мм
|
6 х 6 мм |
- куб до
|
6 х 6 х 6 мм
|
6 х 6 х 6 мм |
Диапазон температур
|
от комнатной до 1600°C
|
от комнатной до 1600°C |
Скорость нагрева
|
от 0.01 до 30°C/мин |
от 0.01 до 30°C/мин |
Система охлаждения
|
нет |
нет |
Термопары образца
|
тип S или B
|
тип S или B |
Термопара в печи
|
тип B
|
тип B
|
Интерфейс с компьютером
|
USB и RS-232
|
USB и RS-232 |
Атмосфера образца:
|
|
|
- окислительная |
статическая или динамическая
|
статическая или динамическая |
- инертная |
динамическая |
динамическая |
Питание |
220В, 50/60 Гц, 2000 Вт
|
220В, 50/60 Гц, 2000 Вт |
|
MISURA® HSMLN
|
MISURA® HSMLNx4
|
Оптическая измерительная система
|
однолучевая |
двухлучевая |
Диапазон расширения/сжатия
|
±100% |
±100% |
|
|
Изменение образца
|
вертикальное |
вертикальное |
Число образцов
|
1 или 2
|
1, 2, 3 или 4
|
Размеры образца (цилиндр)
|
3 х 2 мм
|
3 х 2 мм |
Диапазон размеров образца:
|
|
|
- цилиндр до
|
6 х 6 мм
|
6 х 6 мм |
- куб до
|
6 х 6 х 6 мм
|
6 х 6 х 6 мм |
- пирамида до
|
19 х 6.4 мм 60° |
19 х 6.4 мм 60° |
Стандарты
|
ASTM D1857-68, ISO 540,
DIN 51730, CEN/TS 15370-1
IS 12891, DM 05-02-1998
|
ASTM D1857-68, ISO 540,
DIN 51730, CEN/TS 15370-1
IS 12891, DM 05-02-1998 |
Диапазон температур
|
от комнатной до 1600°C
|
от комнатной до 1600°C |
Скорость нагрева
|
от 0.01 до 30°C/мин |
от 0.01 до 30°C/мин |
Система охлаждения
|
нет |
нет |
Термопары образца
|
тип S или B
|
тип S или B |
Термопара в печи
|
тип B
|
тип B
|
Интерфейс с компьютером
|
USB и RS-232
|
USB и RS-232 |
Атмосфера образца:
|
|
|
- окислительная |
статическая или динамическая
|
статическая или динамическая |
- инертная |
динамическая |
динамическая |
Питание |
220В, 50/60 Гц, 2000 Вт
|
220В, 50/60 Гц, 2000 Вт |
MISURA® HSML - стандартный нагревающий микроскоп серии L
MISURA® HSMx4 - стандартный нагревающий микроскоп серии L с двойной оптикой, способен работать с 4-мя образцами одновременно
MISURA® HSMLN - нагревающий микроскоп серии L адаптированный для использования в стандартных процедурах
MISURA® HSMLNx4 - стандартный нагревающий микроскоп серии L с двойной оптикой, способен работать с 4-мя образцами одновременно, адаптированный для использования в стандартных процедурах
|