ЛАБТЕСТ, LABTEST, спектрометр, спектрофотометр, газоанализатор, комплектующие

Карта сайта

Главная
Спектрометрия
- Спектрометры
- Молекулярная спектроскопия
- Фотометрия пламени
- - Пламенные фотометры
  - - Пламенный фотометр BWB-XP
- Пробоподготовка
- Комплектующие и расходные материалы
- Дополнительное оборудование
- Стандартные образцы
Аналитическое оборудование
- Размер и свойства частиц
- - Лазерная дифракция
  - - Analysette-22 NanoTec
    - Analysette-22 MicroTec Plus
  - Лазерное рассеяние
  - - Nicomp 380
  - Ситовой анализ
  - - Analysette 3 SPARTAN
    - Analysette-3 Pro
  - Счетчики частиц
  - Химические свойства частиц
  - Аэрозольные анализаторы
  - - Контроль запыленности помещений и рабочей зоны
- Удельная поверхность и пористость
- - Удельная поверхность и размеры пор (0.35-400 нм)
  - Размеры пор (3.6 нм - 500 мкм)
  - - Poremaster
  - Катализаторные свойства
  - - Autosorb iQ С
    - ChemBET Pulsar
  - Дегазаторы
  - Адсорбция паров воды
  - - Aquadyne DVS
- Дзета потенциал
- - Анализатор дзета-потенциала
  - - Nicomp 380 ZLS
- Пикнометры и насыпная плотность
- - Пикнометры
  - Насыпная плотность
  - - Autotap
- Электроспиннинг
- - Установки для электроспиннинга
  - - Nanon-01A
    - NF 103
- Термоанализ
- - Дифференциальная сканирующая калориметрия
  - - Дифференциальные сканирующие калориметры
  - Теплоемкость, удельная теплоемкость
  - Термогравиметрия
  - - Термогравиметрические анализаторы
  - Дилатометры и термическое расширение
  - Термомеханический анализ
  - - Термомеханические анализаторы
  - Динамический механический анализ
  - - Динамические механические анализаторы
- Магнитные свойства
- - Системы для намагничивания
  - - MIDI-CAL TS/XX
  - Анализ магнитных свойств
- Инфракрасные микроболометры
- - Неохлаждаемые микроболометры
  - Охлаждаемые инфракрасные детекторы
  - - IR 130 Cooled Module
  - Инфракрасные камеры
  - - IR P3
    - IR 2137
    - IR 2150
    - IR 236
- Оборудование для лабораторий
- - Вискозиметры
  - Вытяжные шкафы, ламинарные боксы и фильтры
  - - Шкаф вытяжной лабораторный
    - Фильтр ламинарный FMS
  - Измельчение
  - - Pulverisette-6
    - Pulverisette-7 premium line
  - Компрессоры
  - - Компрессор N 035 ANE с двигателем IP 44
  - Системы очистки воды
  - - Системы для очистки воды
  - Системы очистки газа
  - - Система очистки инертных газов MP-2000
  - Лабораторные экструдеры
  - Лабораторная мебель
  - Системы очистки кислот
  - - Система очистки кислот DST-1000
- Гомогенизация
- - Ультразвуковые гомогенизаторы
  - Электрогидравлические гомогенизаторы
Новости
- Cеминар «Современные методы анализа наноструктурных материалов»
- Cеминар "Оборудование ООО "ЛАБТЕСТ": Термоанализ, молекулярная спектроскопия, спектрометры, анализаторы размеров частиц, и удельной поверхности. Системы очистки воды. Оборудование для пробоподготовки."
- «Аналитика Экспо» - 9-я Международная специализированная выставка аналитического оборудования, контрольно-измерительных приборов, лабораторной мебели, химических реактивов и материалов.
- Внимание! Требуется новый сотрудник!
- Системы очистки воды. Elga LabWater расширяет ассортимент продукции.
- 12-ая Международная специализированная выставка "ФАРМТЕХ 2010 - технологии фармацевтической индустрии"
- III Международная выставка в рамках III Международного форума по нанотехнологиям Rusnanotech 2010
- SIMEXPO - Научное приборостроение - 2010
- Новый микропланшетный ридер SPECTROstar Nano
- Новый высокочувствительный ДСК EXSTAR X-DSC7020
Области применения
Клиенты
Услуги
- Установка и обучение
- Ремонт и обслуживание
- Гарантия
- Специальные разработки
Сертификация
Инсталляции
- Анализатор удельной поверхности NOVA 1200 в Институте Пластмасс, Москва
- Автоматический гелиевый пикнометр Ultrapycnometer 1200, Воскресенск
- Анализатор насыпной плотности Autotap
- Ручной гелиевый пикнометр MultiPycnometer
- Анализатор размеров частиц NICOMP 380, Новосибирск
- Инсталляция атомно-абсорбционного спектрометра S - Series, Хлебниково
- Инсталляция лабораторного пресса Spex 35, Тихвин
- Инсталляция ICP-MS спектрометра X Series, Петрозаводск
- Инсталляция iCAP, ICP-OES спектрометра, Москва
- Инсталляция NOVA 4200, МГУ, Москва
Производители
- Cetac
- Elementar
- ELGA LabWater
- Fisher
- Fritsch
- Glass Expansion
- Guide Infrared
- Glenammer
- Heraeus Noblelight
- High Purity Standards
Выставки
- Rusnanotech 2008
- Комплексная безопасность 2009
- SIMEXPO 2009
- Rusnanotech 2009
- A-TESTex 2010
- МЕТАЛЛУРГИЯ-ЛИТМАШ 2010
- Rusnanotech 2010
Контакты
Голосования
Глоссарий
- Ситовый анализ
- приписанная характеристика погрешности анализа
- сертификат химического состава
- анализируемое вещество (материал)
- Метод БЕТ, определение удельной поверхности
- среднее значение
- аналит
- поверка средств измерений
- аккредитация аналитической лаборатории
- предел обнаружения
Вопросы-ответы
- Время поставки оборудования
- Гарантийный срок обслуживания
- Оперативность при устранении неисправностей
- Семинары и обучение
О фирме
Заказ
О сайте
Форум
- Химический анализ
- - стандартные растворы для ICP-MS
  - Анализ металла
- Анализ размера частиц
- - Анализ размеров частиц диоксида циркония
- Флуориметрия
- - Измерение спектров поглощения и флуоресценции
- Удельная поверхность и пористость
- - Анализаторы удельной поверхности
- Разное
Сотрудники
Каталог

Today IP:
Today hits:
Plarson.ru

• О фирме • Клиенты • Глоссарий • Вопросы-ответы • Заказ • Форум • Сотрудники •Москва, Б.Тишинский переулок, д.38, к.1, офис 730