 |
|
| Атомная спектроскопия |
| Молекулярная спектроскопия |
| Пробоподготовка |
| Размер и свойства частиц |
| Дзета-потенциал |
| Удельная поверхность и пористость |
| Пикнометры и насыпная плотность |
| Поверхностное натяжение |
| Адгезия |
| Термоанализ |
| Магнитные свойства |
| Очистка воды |
| Вискозиметры |
| Оборудование для лабораторий |
| Чистые помещения |
| Расходные материалы, комплектующие, стандартные образцы |
| Контрольно-измерительные приборы |
| Испытания полимеров |
| Электроспиннинг |
| Инфракрасные детекторы, микроболометры |
| Термостатирование |
ИК-Фурье спектрометры серии FT/IR-4000
Производитель: JASCO
Приборы серии FT/IR-4000 были разработаны для исследовательской работы и проведения рутинного анализа в заводских лабораториях и студенческих практикумах.
Инновационные разработки, примененные в конструкции данной серии приборов, позволили весьма существенно улучшить отношение сигнал/шум. Удобный пользовательский интерфейс FT/IR-4000 позволяет оператору быстро и с минимальными трудозатратами проводить анализ образцов с использованием системы JASCO Quick Start. Программное обеспечение может автоматически проводить анализ полученных данных, упрощая проведение рутинных измерений до одного нажатия клавиши.
Для приборов серии FT/IR-4000 существует большое количество приставок и модификаций, позволяющих существенно расширить возможности системы. Так диапазон длин волн может быть изменен для измерений спектров в ближней или дальней ИК-области. Прибор может быть дополнен различными приставками для анализа твердых жидких или газообразных образцов, с контролем температуры или без. Для проведения микроанализа можно использовать различные ИК-микроскопы как для регистрации спектра в точке, так и с возможностью картографирования поверхности. Существует также возможность подключения прибора в качестве анализатора газов при термическом разложении твердых образцов или их фракционном испарении.
Управление прибором и анализ спектральных данных осуществляется с помощью кроссплатформенного программного обеспечения Spectra Manager. Это позволяет дополнять результаты анализа ИК-спектров различными другими (УФ, флуоресценция, круговой дихроизм, КР и прочее) спектральными данными для получения более полной и представительной аналитической картины.
Серия приборов FT/IR-4000 состоит из двух моделей - FT/IR-4100 и FT/IR-4200. Каждая из моделей предоставляет пользователю простоту и удобство работы при высочайшем соотношении сигнал/шум для своего модельного класса.
- FT/IR-4200 - разрешение 0.5 см-1, отношение сигнал/шум 30000:1
- FT/IR-4100 - разрешение 0.9 см-1, отношение сигнал/шум 22000:1
- Система электронного распознавания приставок
- Связь с прибором для управления и обработки результатов посредством USB интерфейса
- Возможность быстрого сканирования спектра
- ИК-микроскопия и ИК-изображение при работе с многоканальным микроскопом IRT-7000
- ИК-микроскопия с использованием микроскопов IRT-5000
- Возможность установки ИК-микроскопа Intronμ в кюветное отделение прибора
- Улучшенная компенсация атмосферных CO2 и H2O
- Поиск по билиотекам спектров более 10000 соединений
ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
| FT/IR-4100 |
FT/IR-4200 |
|
| Диапазон волновых чисел |
от 7800 до 350 см-1 |
|
| Расширение диапазона волновых чисел |
от 15000 до 2200 см-1, от 5000 до 220 см-1 |
|
| Отображаемый диапазон |
от 7900 до 0 см-1 (стандартно), от 15000 до 0 см-1 (дополнительно) |
|
| Точность |
в пределах ±0.01 см-1 |
|
| Разрешение |
0.9 см-1 |
0.5 см-1 |
| Оптическая схема |
Однолучевая |
|
| Кюветное отделение |
Размер: 200 х 260 х 185 мм |
|
| Интерферометр |
45° интерферометр Майкельсона |
|
| Материал светоделителя |
Ge/KBr (стандартный) Si/CaF2, Ge/CsI (дополнительно) |
|
| Источник излучения |
Керамический источник высокой интенсивности (стандартно) Галогенная лампа (дополнительно) |
|
| Детектор |
DLATGS с Пельтье термостатированием (стандартно) W-MCT, M-MCT, N-MCT, Si, InSb, InGaAs (дополнительно) в приборе одновременно могут быть установлены два детектора |
|
| Продувка |
Интерферометр, Кюветное отделение/детектор |
|
| Отношение сигнал/шум |
22000:1 (4 см-1, 1 мин, около 2200 см-1) |
30000:1 (4 см-1, 1 мин, около 2200 см-1) |
| Гладкость базовой линии (100% пропускание) |
в диапазоне 100±1%T (многократное сканирование в диапазоне от 4000 до 700 см-1) |
|
| Интерфейс |
USB2.0 |
|
© ООО "ЛАБТЕСТ" 2013 г.
| Научное и лабораторное оборудование 123557, г. Москва, Б.Тишинский переулок, д.38 Тел.: +7 (495)605-3507, +7 (495)605-3610 Факс: +7 (495)605-3507 e-mail: |